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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching, Fachbücher von Gerd Kaupp
Das Buch "Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching" bietet eine umfassende Einführung in die Grundlagen und Anwendungen der Supermikroskopie, insbesondere der Atomkraftmikroskopie (AFM) und der Scanning Nearfield Optical Microscopy (SNOM). Es richtet sich an Fachleute aus den Naturwissenschaften, einschliesslich Physik, Chemie, Mineralogie, Materialwissenschaften, Biologie und Medizin, sowie an Fachleute im Bereich der Nanotechnologie. Die Monographie behandelt die Unterschiede zwischen nano- und mikro-mechanischen Tests und erläutert die Herausforderungen und Lösungen bei der Untersuchung von rauen und technischen Oberflächen im Submikronbereich. Besondere Aufmerksamkeit wird den neuen Instrumentierungen, physikalischen Gesetzen und innovativen Anwendungen gewidmet, die in verschiedenen wissenschaftlichen Disziplinen von Bedeutung sind. Zudem werden häufige Fehlerquellen und deren effiziente Behebung behandelt, um die Anwendung der Prinzipien auf reale wissenschaftliche und industrielle Aufgaben zu erleichtern.
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Springer Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching (Englisch, Hardcover, Gerd Kaupp) (9783540284055)
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Springer Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching (Englisch, Softcover, Gerd Kaupp) (55374303)Springer Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching (Englisch, Softcover, Gerd Kaupp) (55374303)213,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3 (Englisch, Softcover, Marcia L. Lightbody, Samuel H. Cohen) (55541178)Springer Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3 (Englisch, Softcover, Marcia L. Lightbody, Samuel H. Cohen) (55541178)106,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2 (Englisch, Softcover, Marcia L. Lightbody, Samuel H. Cohen) (55539432)Springer Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2 (Englisch, Softcover, Marcia L. Lightbody, Samuel H. Cohen) (55539432)160,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (Englisch, Softcover, M. T. Bray, Marcia L. Lightbody, Samuel H. Cohen) (55539491)Springer Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (Englisch, Softcover, M. T. Bray, Marcia L. Lightbody, Samuel H. Cohen) (55539491)160,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
Atomic Force Microscopy, Fachbücher von Bert Voigtländer
Das Buch "Atomic Force Microscopy" von Bert Voigtländer bietet eine umfassende Einführung in die Betriebsprinzipien der Rasterkraftmikroskopie. Es zielt darauf ab, den Leser in die Lage zu versetzen, ein Rastersondenmikroskop erfolgreich zu bedienen und die gewonnenen Daten zu verstehen. Diese überarbeitete und erweiterte zweite Auflage des vorherigen Werkes "Scanning Probe Microscopy" stellt eine bedeutende Erweiterung des Kapitels zur Rasterkraftmikroskopie dar. Das Buch behandelt sowohl grundlegende als auch wichtige technische Aspekte der Rasterkraftmikroskopie und legt den Fokus auf die Prinzipien der Methoden, die auf eine didaktische und leicht verständliche Weise präsentiert werden. Es richtet sich in erster Linie an Studierende der Physik, Materialwissenschaften, Chemie, Nanowissenschaften und Ingenieurwissenschaften, ist jedoch auch für Fachleute und Neueinsteiger in diesem Bereich von Nutzen und dient als ideales Nachschlagewerk in jedem Labor für Rasterkraftmikroskopie.
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Atomic Force Microscopy, Fachbücher von Ahmed Touhami
Das Buch "Atomic Force Microscopy" von Ahmed Touhami bietet eine umfassende Analyse der Fortschritte in der Rasterkraftmikroskopie (AFM) und deren Anwendung in der Mikrobiologie. In den letzten zwei Jahrzehnten hat AFM eine entscheidende Rolle bei der Untersuchung der Strukturen und Dynamiken mikrobieller Oberflächen auf nanometrischer Ebene gespielt. Das Werk beleuchtet die kontinuierlichen Innovationen in AFM-basierten Methoden und deren Kombination mit modernen optischen Techniken wie der konfokalen Fluoreszenzmikroskopie und der Raman-Spektroskopie. Diese Synergien ermöglichen eine tiefere Einsicht in mikrobiologische Prozesse auf Einzelzellebene und erweitern die Möglichkeiten zur multiparametrischen und multifunktionalen Charakterisierung von Bakterienoberflächen. Das Buch enthält zahlreiche Beispiele, die die Echtzeit-Bildgebung der nanoskaligen Organisation von Zellwänden, die Quantifizierung chemischer Heterogenitäten und die Analyse der nanomechanischen Eigenschaften lebender Bakterien umfassen. Die vorgestellten Methoden und Techniken sind von grosser Bedeutung für die zukünftige Forschung in der Mikrobiologie.
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching, Fachbücher von Gerd KauppDas Buch "Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching" bietet eine umfassende Einführung in die Grundlagen und Anwendungen der Supermikroskopie, insbesondere der Atomkraftmikroskopie (AFM) und der Scanning Nearfield Optical Microscopy (SNOM). Es richtet sich an Fachleute aus den Naturwissenschaften, einschliesslich Physik, Chemie, Mineralogie, Materialwissenschaften, Biologie und Medizin, sowie an Fachleute im Bereich der Nanotechnologie. Die Monographie behandelt die Unterschiede zwischen nano- und mikro-mechanischen Tests und erläutert die Herausforderungen und Lösungen bei der Untersuchung von rauen und technischen Oberflächen im Submikronbereich. Besondere Aufmerksamkeit wird den neuen Instrumentierungen, physikalischen Gesetzen und innovativen Anwendungen gewidmet, die in verschiedenen wissenschaftlichen Disziplinen von Bedeutung sind. Zudem werden häufige Fehlerquellen und deren effiziente Behebung behandelt, um die Anwendung der Prinzipien auf reale wissenschaftliche und industrielle Aufgaben zu erleichtern.213,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching (Englisch, Hardcover, Gerd Kaupp) (9783540284055)Springer Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching (Englisch, Hardcover, Gerd Kaupp) (9783540284055)213,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching (Englisch, Softcover, Gerd Kaupp) (55374303)Springer Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching (Englisch, Softcover, Gerd Kaupp) (55374303)213,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3 (Englisch, Softcover, Marcia L. Lightbody, Samuel H. Cohen) (55541178)Springer Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3 (Englisch, Softcover, Marcia L. Lightbody, Samuel H. Cohen) (55541178)106,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (Englisch, Softcover, M. T. Bray, Marcia L. Lightbody, Samuel H. Cohen) (55539491)Springer Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (Englisch, Softcover, M. T. Bray, Marcia L. Lightbody, Samuel H. Cohen) (55539491)160,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Atomic Force Microscopy, Fachbücher von Bert VoigtländerDas Buch "Atomic Force Microscopy" von Bert Voigtländer bietet eine umfassende Einführung in die Betriebsprinzipien der Rasterkraftmikroskopie. Es zielt darauf ab, den Leser in die Lage zu versetzen, ein Rastersondenmikroskop erfolgreich zu bedienen und die gewonnenen Daten zu verstehen. Diese überarbeitete und erweiterte zweite Auflage des vorherigen Werkes "Scanning Probe Microscopy" stellt eine bedeutende Erweiterung des Kapitels zur Rasterkraftmikroskopie dar. Das Buch behandelt sowohl grundlegende als auch wichtige technische Aspekte der Rasterkraftmikroskopie und legt den Fokus auf die Prinzipien der Methoden, die auf eine didaktische und leicht verständliche Weise präsentiert werden. Es richtet sich in erster Linie an Studierende der Physik, Materialwissenschaften, Chemie, Nanowissenschaften und Ingenieurwissenschaften, ist jedoch auch für Fachleute und Neueinsteiger in diesem Bereich von Nutzen und dient als ideales Nachschlagewerk in jedem Labor für Rasterkraftmikroskopie.181,89 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Atomic Force Microscopy, Fachbücher von Ahmed TouhamiDas Buch "Atomic Force Microscopy" von Ahmed Touhami bietet eine umfassende Analyse der Fortschritte in der Rasterkraftmikroskopie (AFM) und deren Anwendung in der Mikrobiologie. In den letzten zwei Jahrzehnten hat AFM eine entscheidende Rolle bei der Untersuchung der Strukturen und Dynamiken mikrobieller Oberflächen auf nanometrischer Ebene gespielt. Das Werk beleuchtet die kontinuierlichen Innovationen in AFM-basierten Methoden und deren Kombination mit modernen optischen Techniken wie der konfokalen Fluoreszenzmikroskopie und der Raman-Spektroskopie. Diese Synergien ermöglichen eine tiefere Einsicht in mikrobiologische Prozesse auf Einzelzellebene und erweitern die Möglichkeiten zur multiparametrischen und multifunktionalen Charakterisierung von Bakterienoberflächen. Das Buch enthält zahlreiche Beispiele, die die Echtzeit-Bildgebung der nanoskaligen Organisation von Zellwänden, die Quantifizierung chemischer Heterogenitäten und die Analyse der nanomechanischen Eigenschaften lebender Bakterien umfassen. Die vorgestellten Methoden und Techniken sind von grosser Bedeutung für die zukünftige Forschung in der Mikrobiologie.56,70 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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